Исследование в электронных микроскопах жидких продуктов требует размещения их на тончайших пленках-подложках, опорой для которых служат специальные сетки-подложки, изготовляемые из меди электролитическим способом или сплетенные из тонкой проволоки. Электроны, дающие изображение исследуемых объектов, взаимодействуют с пленкой-подложкой, поэтому материал пленки, толщина, механическая прочность, стойкость к электронной бомбардировке должны быть учтены. Для некоторых препаратов применяют еще метод оттеснения — осаждения на пленке слоя металла испарением его в вакууме. Атомы металла в глубоком вакууме разлетаются от места испарения по прямолинейным траекториям. Если под некоторым углом к направлению летящего пучка частиц поместить пленку с исследуемым веществом, то на ее поверхности отложится слой металла различной толщины. Для напыления используют проволочки диаметром около 5 мм из платины, палладия, вольфрама, хрома и нагревают до температуры, несколько ниже температуры их плавления. При оценке электронных микроскопов наиболее важным является «разрешающая способность», которая дает раздельное изображение точек объектива, расположенных в непосредственной близости. Чем меньше расстояние между двумя точками, при котором они видны раздельно, тем выше разрешающая способность прибора.